| 产品特性：M408306 | 是否进口：否 | 产地：M408306 |
| 加工定制：否 | 品牌：M408306 | 型号：M408306 |
| 外形尺寸：M408306mm | 重量：M408306Kg | 产品用途：M408306 |
| 规格：M408306 |
低频介电常数及介质损耗测试系统(50HZ-100KHZ) 型号:HH12-AS2838
库号：M408306
系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的解决方案。能对绝缘材料进行 高低频介电常数(ε )和介质损耗角(D或tanδ ) 的测试。
AS2878/AS283系列低频绝缘材料介电常数及介质损耗测试仪中测试装置是由平板电容器组成， 平板电容器一般用来夹被测样品， 配用高频阻抗分析仪作为指示仪器。 绝缘材料的介电常数和损耗值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的D值(损耗值)变化和Cp（电容值） 读数通过公式计算得到。
